测试题（是非题）

2-1 射线成像法与射线胶片照相法都属于射线检测技术，射线成像是其中的一个分支。

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2-2 用荧光粉沉积在基板上制成的屏幕与X射线组合就形成工业荧光屏透视检验法。

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2-3 20世纪90年代后期，薄膜晶体管（TFT）技术出现，很快被应用于DR平板探测器的研制上。

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2-4 工业射线成像的基本原理与射线胶片照相法基本相同，都是利用射线在被透照物体中的衰减或透射。

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2-5 射线透视法的基本原理是借助射线探测器，在输出屏上得到透过被检件射线的光子图像，直接显示或通过计算机处理后，在监视屏上观察工件检测信息，评定工件内部质量。

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2-6 射线成像与常规无损检测技术（射线、超声、磁粉、渗透、涡流）相比，主要特点是快速、高效、动态、多方位在线检测。

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2-7 射线成像在工业无损检测方面的应用主要是在线管焊接件生产检验、火箭发动机外壳检验，以及铸件、晶体管件、微型电路、火箭推进剂电路板均匀性、电磁阀、熔断器、继电器、钢铁、铝和铝合金的焊接件、轻质材料、塑料、橡胶、陶瓷制品等质量检验。

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2-8 X射线成像检验技术需要一套设备（硬件与软件）来支撑，才能构成一个完整的检验系统，简称X射线成像系统。

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2-9 射线成像检验系统的基本组成部分一般为射线源、机械装置、射线探测器（含A-D）、图像处理、图像显示、图像储存和控制等。

2-10 数字图像是将连续的模拟图像经过离散处理后，变成计算机能辨识的点阵图像。

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2-11 数字化后的图像可以看成存储在计算机中的有序数据，当然也可以通过计算机对数字图像进行处理。把利用计算机对图像进行去除噪声、增强、复原、重建、分割、提取特征等理论、方法和技术称为数字图像处理。

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2-12 有许多检测射线能量和通量密度的系统，但对于实际应用只选择这几种射线成像系统的基本类型。所谓的基本类型是指所有常用检测X射线光子系统取决于X射线光子转换和X射线电子转换两个基本进程。

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2-13 无论使用荧光物质材料、闪烁晶体材料的X射线光子转换，还是使用半导体、光导材料的X射线电子转换，最终都可以生成图像，而产生图像路径相同。

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2-14 对于射线成像设备，若按使用成像器大致可分7类；若按实际使用的射线成像检测组合系统，大约有13种成像系统。

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2-15 开放式是指转换屏放在被检件后面，透过工件的X射线影像变成可见光图像，屏是“开放”地放在真空盒中。

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2-16 用常规X射线图像增强器管将X射线图像转换成可见光，然后激发出电子，最后再转换成可见光，由闭路电视摄像机摄取图像再聚焦在增强管输入屏上。

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2-17 扫描直线阵列式是由许多对X射线敏感元件组成的直线阵列沿试件进行扫描，阵列扫描每一位置相当于一行像素，将数百行像素记录并存储起来，就相当于一幅二维图像，将图像处理并显示在监视器上。

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2-18 数字平板探测器（DR）是利用电子技术将X射线信息转化为非电子载体的X射线成像方法。

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2-19 目前数字平板探测器成像系统中包含所有探测器，包括电荷耦合器件探测器、薄膜晶体管平板探测器、间接转换式平板探测器、直接转换式平板探测器、CMDS数字平板等。

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2-20 图像显示单元宜采用黑白的方形显示器，显示器点距为0.26mm、要逐行扫描、刷新频率为85Hz，对图像评定选用17~19in显示器。

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[1] ㊀ 1in=0.0254m，后同。